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SÍNTESIS Y CARACTERIZACIÓN DE LAS PROPIEDADES ÓPTICO-ELÉCTRICAS DE PELÍCULAS DELGADAS DE ÓXIDO DE ZINC DOPADO CON DIFERENTES CONCENTRACIONES DE ALUMINIO

CÓDIGO DE PROYECTO #PE501081866-2022
Información General
Numero de Subvención
PE501081866-2022
Líder de Proyecto
Descripción
Resumen
Los óxidos conductores transparentes (TCO’s) son semiconductores degenerados con una notable combinación de conductividad eléctrica y transparencia óptica que los hace idóneos para diferentes aplicaciones optoelectrónicas. Entre los TCO’s más prometedores está el óxido de zinc dopado con aluminio (AZO), el cuál aparece como una buena alternativa al óxido de indio dopado con estaño (ITO) debido a su bajo costo y su no toxicidad. Las propiedades ópticas y eléctricas del AZO dependen de la concentración de aluminio (Al). El óxido de zinc (ZnO) presenta un pico excitónico en el espectro de absorción aún visible cuando es dopado con bajas concentraciones de Al (~1at). Sin embargo, este efecto no se toma en cuenta al determinar el ancho de banda con el método de Tauc. Por otro lado, se desea evaluar la posibilidad de determinar las propiedades eléctricas a partir de medidas ópticas con el uso de modelos dispersión apropiados. El método de investigación consiste en la síntesis de películas delgadas de AZO variando la concentración de Al por el método de pulverización catódica de radiofrecuencia. La caracterización de sus propiedades optoelectrónicas se realizará a partir de medidas de elipsometría espectral de ángulo variable mediante el ajuste de modelos que describen la absorción fundamental e infrarroja del material. En este sentido, el objetivo general es estudiar el impacto de la variación en la concentración de Al en las propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de AZO. Para el cumplimiento del objetivo general, se plantean los siguientes objetivos específicos: - Sintetizar películas delgadas de AZO con diferentes concentraciones de Al desde 1at% a 4at% mediante pulverización catódica de radiofrecuencia - Determinar el ancho de banda y energía de ligadura de los excitones para películas delgadas de AZO a partir de medidas de elipsometría usando modelos tipo Elliot - Determinar la resistividad eléctrica, densidad y movilidad de los portadores de carga para películas delgadas de AZO usando los modelos de Hamberg y Sernelius En este trabajo, se espera determinar con precisión las propiedades óptico-eléctricas de películas delgadas de AZO, comprender cómo las diferentes concentraciones de Al afectan dichas propiedades y monitorear la presencia de excitones libres en el material. Los resultados permitirán sintonizar las propiedades del AZO para su potencial uso en diferentes dispositivos optoelectrónicos como electrodos transparentes, como contactos transparentes en celdas solares o en sensores de gases orgánicos.
Objetivo General
Estudiar el impacto de la variación en la concentración de aluminio (Al) en las propiedades ópticas y eléctricas de películas delgadas de óxido de zinc dopado con aluminio (AZO)
Palabras Clave
AZO, resistividad eléctrica, excitones, FONDECYT, CONCYTEC, Cienciactiva
Tipo de intervención
Intervención
MOVILIZACIONES
Convenio
PROCIENCIA
Entidad ejecutora
Nombre de la Organización
ENRIQUE MORÁN ,LUIS ALONSO
Dependencia / Unidad
Región
Tipo de organización
PERSONA NATURAL
País
PERÚ
Entidades Asociadas

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Equipo Técnico
Página 1 de 1 · Total: 1
Filas:
Datos actualizados al 21/07/2026
Información Adicional
Área / Subárea OCDE
CIENCIAS NATURALES / CIENCIAS FÍSICAS
País ejecución
PERÚ
Región ejecución
LIMA
Periodo de Ejecución
11/03/2023 al 10/06/2025
Disciplina OCDE
FÍSICA DE LA MATERIA
Monto total
Monto total
S/ 54,260.00
Publicaciones
Página 1 de 1 · Total: 1
Filas:
Datos actualizados al 21/07/2026
Propiedad Intelectual

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Tesis
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Filas:
NIVEL ACADÉMICO: Maestría
GRADO ACADÉMICO: Doctor en Ciencias con mención en Matemática
AÑO: 2024
Datos actualizados al 21/07/2026
Presentaciones Orales

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Pasantías

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MONTO CONT: S/ 29,997.00
NOMBREESTADO: En Ejecución
Datos actualizados al 20/07/2026